Advantest-High-Speed Memory Test System (Model:T5811)

0
265
Vui lòng liên hệ với chúng tôi– chúng tôi sẽ liên hệ lại với khách hàng bằng điện thoại hoặc email.
Lưu ý: Tham khảo ý kiến của nhân viên INO sẽ giúp bạn tiết kiệm được thời gian và chi phí khi cần mua sắm. ​​Với sự tư vấn của chúng tôi, bạn sẽ không gặp khó khăn khi tìm hiểu về đặc tính của sản phẩm cần mua.

ETH Technology Dramatically Reduces COT

Advantest's Enhanced Test Head (ETH) technology, a proprietary BOST configuration, holds down the cost of the tester mainframe by locating virtually all tester functionality on the motherboard in close proximity to the DUTs. ETH technology also enables upgradability via a simple switch-out of the Enhanced Test Module (ETM) component, allowing users to add functionality and improve test speed at will-contributing to significant COT reduction in the future as well as in the present.

90% Lower Power Consumption, 2/3rds Smaller Footprint

The T5811 lowers power consumption by 90% and floor-space requirements by two-thirds, compared to previous testers, by utilizing Advantest's proprietary ETH technology to locate virtually all tester functionality on the motherboard.

Simple Test Program Creation

The T5811 runs Advantest's “Future Suite” tester OS, allowing operators to utilize the extensive library of program data created for T5xxx series test systems, regardless of whether BOST configuration is utilized.

A New Solution for Commodity DRAM Test Cost Reduction

Dynamic random access memory (DRAM) is the most commonly used type of commodity memory device for servers and client PCs, and is also used extensively in mobile applications. Solid bit growth in DDR3-SDRAM and DDR4-SDRAM, the dominant types of PC memory, augurs continuing market expansion. Meanwhile, the low-power requirements of smartphones and tablets underpin forecasts of rapidly growing demand for LPDDR2-SDRAM and LPDDR3-SDRAM. Yet the ongoing commodification of DRAM is driving down prices and forcing chipmakers to seek greater COT (cost of test) savings on their volume production lines. Backend DRAM test is commonly subdivided into memory core test and at-speed test. Advantest's new T5811 memory test system offers a dramatic contribution to lower COT by focusing on core test.

Target Devices LPDDR2/3-SDRAM, DDR3-SDRAM and DDR4-SDRAM cores
Parallel test capacity 512 (×8 I/O)
Maximum test speed 600MHz / 1.2Gbps
Lưu ý: Nếu một thiết bị nào đó không được liệt kê ở đây, điều đó không có nghĩa rằng chúng tôi không hỗ trợ được bạn về thiết bị đó. Hãy liên hệ với chúng tôi để biết danh sách đầy đủ về thiết bị mà chúng tôi có thể hỗ trợ và cung cấp.
INO: Bán, Báo giá, tư vấn mua sắm và cung cấp, tư vấn sản phẩm thay thế; tương đương, hướng dẫn sử dụng, giá…VNĐ, …USD info@ino.com.vn | Tel: (+84) 028 73000184 | Advantest-High-Speed Memory Test System (Model:T5811).