Advantest-Test Handler (Model:M4551A)

0
344
Vui lòng liên hệ với chúng tôi– chúng tôi sẽ liên hệ lại với khách hàng bằng điện thoại hoặc email.
Lưu ý: Tham khảo ý kiến của nhân viên INO sẽ giúp bạn tiết kiệm được thời gian và chi phí khi cần mua sắm. ​​Với sự tư vấn của chúng tôi, bạn sẽ không gặp khó khăn khi tìm hiểu về đặc tính của sản phẩm cần mua.

 Parallel Test for up to 8 Devices, and a Highly Clean Test Environment

Image sensors are used in an increasingly broad range of product applications, such as cellular phones and digital home appliances. At the same time, unit prices of logic devices, system LSIs and other devices continue to decline, contributing to development of a growing array of high-resolution microscopic devices. Against this background, an increasing proportion of a device's total cost is represented by cost of test, which creates strong incentives to reduce this cost. ADVANTEST delivers an effective response to these needs in the form of the M4551A Test Handler. Incorporating our proven handler technology, the M4551A is the newest and most advanced logic device handler, optimal for testing image sensors.

High Throughput and Stable Operation Reduce Cost of Test

The M4551A parallel-tests up to eight devices at room temperature and above. Its wide measurement bed enables it to adapt to device sizes or light source layouts more flexibly than conventional testers. Leveraging a device-handling mechanism with an established reputation for success, the M4551A optimizes motion control, attaining high throughput and stable operation simultaneously.

A Highly Clean Test Environment for Image Sensors

Minimization of microscopic dust allows for clean test of high-density image sensors at an accelerated pace; an optional configuration allows the M4551A to achieve a Class-100 clean environment (optional). This strict environmental control yields device test characterized by improved reliability and throughput.

Free Selection of Light Source through the Dead-Bug Method

The M4551A supports various types and sizes of light sources, made possible through its use of the dead-bug method. This method positions the light source, required for image sensor testing, underneath the device. Also, the ease with which the light source can be dismounted facilitates improved maintenance of the light source itself, as well as the handler.

Target Packages DIP, SOP, LCC, etc.
Simultaneous Testing Up to 8 devices
Throughput 2,200 devices per hour
Temperature Range Room temperature, +50 to +125°C
Lưu ý: Nếu một thiết bị nào đó không được liệt kê ở đây, điều đó không có nghĩa rằng chúng tôi không hỗ trợ được bạn về thiết bị đó. Hãy liên hệ với chúng tôi để biết danh sách đầy đủ về thiết bị mà chúng tôi có thể hỗ trợ và cung cấp.
INO: Bán, Báo giá, tư vấn mua sắm và cung cấp, tư vấn sản phẩm thay thế; tương đương, hướng dẫn sử dụng, giá…VNĐ, …USD info@ino.com.vn | Tel: (+84) 028 73000184 | Advantest-Test Handler (Model:M4551A).